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FTS2000电子器件老化测试实验系统,是费思针对各种分立元件, 电源模块,继电器,接触器,线束,保险丝等电子器件及产品的 动态老化测试,包括:可靠性实验、寿命试验、性能指标实验等 应用而开发的实验系统。 系统搭配费思的各型高精度的直流电源和电子负载以及费思的系 列数据采集控制板卡,搭配各类高低温试验箱及测试仪器,系统 可实现对元器件的加速老化测试。
简述
● FTS2000电子器件老化测试实验系统,是费思针对各种分立元件, 电源模块,继电器,接触器,线束,保险丝等电子器件及产品的 动态老化测试,包括:可靠性实验、寿命试验、性能指标实验等 应用而开发的实验系统。
● 系统搭配费思的各型高精度的直流电源和电子负载以及费思的系 列数据采集控制板卡,搭配各类高低温试验箱及测试仪器,系统 可实现对元器件的加速老化测试。
● 测试系统操作简便,可对多个分组批量的电子器件产品同时动态 加电' 拉载' 控制,进行长时间的' 连续的测试控制,及数据统 计分析。
● 系统的架构具有良好的扩展性,配置灵活度高,可提供定制的测试 项,帮助各类用户轻松完成复杂的实验。
特点
● 动态测试;
● 测试精度高;
● 采集速度快;
● 开放式软件,可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置;
● 模块化设计,易于维护;
● 紧凑的结构设计,可配合高低温箱开展实验;
● 高性能、低纹波噪音程控电源;
● 自适应恒压或恒流输出,自动切换工作状态;
● 时序控制功能,可自定义每一路电源输出大小和时间工步;
● 实时监测通道数据、图形化显示设备信息、测试数据的记录保存与调 用,导出成Exce l文件保存。
系统软件
● FTS2000系统根据客户需求,为使用者提供了一套适合于广泛应用 的开放式软体架构。用户可编辑测试步骤,同时控制单台或多台 测试设备。
● 开放式软件,可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置;
● 可编辑每通道电源的电压电流和运行时序,实现复杂带载测试;
● 可记录每个试验通道的测试数据,并绘制输出曲线和Excel数据报 告,确保试验数据可追溯;
● 可显示每通道的电压、电流,运行时序等实时信息;
● 可显示每个试验通道试验器件型号、老化状态、老化进程、监视状态、报警状态、器件库信息等,全面反映系统试验总体进程和状况。
推荐测试仪器
● 电子负载
FTL多路电源
输出范围(单机):0~600V/0~110A/0~1500W
FTP3000系列
输出范围(单机):0~600V/0~80A/0~1500W
FTP系列
输出范围(单机):0~1500V/0~240A/0~6500W
● 直流电子负载
FT6400系列
输出范围(单机):0~1200V/0~2100A/0~6kW
FT6100A多路负载
输出范围(单路):0~500V/0~120A/0~1080W
● 测量附件
FT8000系列数据采集控制系统
可提供继电器控制、电压测量、数字IO信号