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FTS2000

费思 电子器件老化测试实验系统

FTS2000电子器件老化测试实验系统,是费思针对各种分立元件, 电源模块,继电器,接触器,线束,保险丝等电子器件及产品的 动态老化测试,包括:可靠性实验、寿命试验、性能指标实验等 应用而开发的实验系统。 系统搭配费思的各型高精度的直流电源和电子负载以及费思的系 列数据采集控制板卡,搭配各类高低温试验箱及测试仪器,系统 可实现对元器件的加速老化测试。

产品介绍/ Product introduction

简述




●   FTS2000电子器件老化测试实验系统,是费思针对各种分立元件, 电源模块,继电器,接触器,线束,保险丝等电子器件及产品的 动态老化测试,包括:可靠性实验、寿命试验、性能指标实验等 应用而开发的实验系统。
●   系统搭配费思的各型高精度的直流电源和电子负载以及费思的系 列数据采集控制板卡,搭配各类高低温试验箱及测试仪器,系统 可实现对元器件的加速老化测试。
●   测试系统操作简便,可对多个分组批量的电子器件产品同时动态 加电' 拉载' 控制,进行长时间的' 连续的测试控制,及数据统 计分析。
●   系统的架构具有良好的扩展性,配置灵活度高,可提供定制的测试 项,帮助各类用户轻松完成复杂的实验。



特点




●   动态测试;
●   测试精度高;
●   采集速度快;
●   开放式软件,可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置;
●   模块化设计,易于维护;
●   紧凑的结构设计,可配合高低温箱开展实验;
●   高性能、低纹波噪音程控电源;
●   自适应恒压或恒流输出,自动切换工作状态;
●   时序控制功能,可自定义每一路电源输出大小和时间工步;
●   实时监测通道数据、图形化显示设备信息、测试数据的记录保存与调 用,导出成Exce l文件保存。



系统软件




●   FTS2000系统根据客户需求,为使用者提供了一套适合于广泛应用 的开放式软体架构。用户可编辑测试步骤,同时控制单台或多台 测试设备。
●   开放式软件,可根据需求实现硬件设备的增加、调整、配置;
●   可编辑每通道电源的电压电流和运行时序,实现复杂带载测试;
●   可记录每个试验通道的测试数据,并绘制输出曲线和Excel数据报 告,确保试验数据可追溯;
●   可显示每通道的电压、电流,运行时序等实时信息;
●   可显示每个试验通道试验器件型号、老化状态、老化进程、监视状态、报警状态、器件库信息等,全面反映系统试验总体进程和状况。



推荐测试仪器





●   电子负载


FTL多路电源
输出范围(单机):0~600V/0~110A/0~1500W


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FTP3000系列
输出范围(单机):0~600V/0~80A/0~1500W


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FTP系列
输出范围(单机):0~1500V/0~240A/0~6500W


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●   直流电子负载


FT6400系列
输出范围(单机):0~1200V/0~2100A/0~6kW


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FT6100A多路负载
输出范围(单路):0~500V/0~120A/0~1080W


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●   测量附件


FT8000系列数据采集控制系统
可提供继电器控制、电压测量、数字IO信号


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